QFN40(5x5)-0.4下壓老化座MCU測試燒錄用于JTAGSWSPI調(diào)試編程
QFN40(5x5)-0.4下壓老化座MCU測試燒錄用于JTAGSWSPI調(diào)試編程
產(chǎn)品價格:¥200.00(人民幣)
  • 規(guī)格:QFN40(5x5)-0.4-0092TGH
  • 發(fā)貨地:廣東深圳
  • 品牌:
  • 最小起訂量:1
  • 免費會員
    會員級別:試用會員
    認證類型:企業(yè)認證
    企業(yè)證件:通過認證

    商鋪名稱:深圳市鴻怡電子有限公司

    聯(lián)系人:William(先生)

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    商品詳情
      產(chǎn)品參數(shù)
      型號QFN40(5x5)-0.4-0092TGH
      封裝/規(guī)格插件
      類型DIP
      間距0.4
      總針腳數(shù)40 1
      圓孔/方孔圓孔
      觸頭鍍層
      工作溫度范圍-45~155℃
      包裝盒裝
      認證機構(gòu)CE
      最小包裝量1
      數(shù)量1
      封裝QFN
      批號以出貨為準
      品牌ANDK

      QFN40(5x5)-0.4-0092TGH芯片測試座
      1.引腳:40 signal Pin 1 GND;
      2.間距:0.4mm
      3.尺寸:5*5mm
      4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
      5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
      6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
      7.Temperature:-45~155℃
      8.Current Rating:1A Max.











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