QFN16-0.5-3x3翻蓋彈片老化座MCUflash電源芯片可靠性耐久性測試
QFN16-0.5-3x3翻蓋彈片老化座MCUflash電源芯片可靠性耐久性測試
產(chǎn)品價格：￥68.00（人民幣）
  • 規(guī)格：QFN16-0.53*3翻蓋彈片老化座（帶頂針）
  • 發(fā)貨地：廣東深圳
  • 品牌：
  • 最小起訂量：1
    • 免費會員
    會員級別：試用會員
    認(rèn)證類型：企業(yè)認(rèn)證
    企業(yè)證件：通過認(rèn)證
    認(rèn)證信息：深圳市鴻怡電子有限公司

    商鋪名稱：深圳市鴻怡電子有限公司

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    商品詳情
      產(chǎn)品參數(shù)
      型號QFN16-0.5 3*3翻蓋彈片老化座（帶頂針）
      封裝/規(guī)格插件
      類型DIP
      間距0.5
      總針腳數(shù)16 1
      圓孔/方孔圓孔
      觸頭鍍層金
      工作溫度范圍-45~155℃
      包裝盒裝
      認(rèn)證機構(gòu)CE
      最小包裝量1
      數(shù)量1
      封裝QFN
      批號以出貨為準(zhǔn)
      品牌HMILU

      QFN16-0.5-3*3翻蓋測試座
      1.引腳：16 signal Pin 1 GND；
      2.間距：0.5mm
      3.尺寸：3*3mm
      4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
      5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
      6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV（initial）
      7.Temperature:-45~155℃
      8.Current Rating：1A Max.







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    • 0571-87774297