QFN240.35老化座芯片測(cè)試座ICburninsocket助聽(tīng)硅麥測(cè)試連接器
QFN240.35老化座芯片測(cè)試座ICburninsocket助聽(tīng)硅麥測(cè)試連接器
產(chǎn)品價(jià)格：￥244.00（人民幣）
  • 規(guī)格：QFN24（3*3）-0.35-0092TGH
  • 發(fā)貨地：廣東深圳
  • 品牌：
  • 最小起訂量：1
    • 免費(fèi)會(huì)員
    會(huì)員級(jí)別：試用會(huì)員
    認(rèn)證類型：企業(yè)認(rèn)證
    企業(yè)證件：通過(guò)認(rèn)證
    認(rèn)證信息：深圳市鴻怡電子有限公司

    商鋪名稱：深圳市鴻怡電子有限公司

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    商品詳情
      產(chǎn)品參數(shù)
      型號(hào)QFN24（3*3）-0.35-0092TGH
      封裝/規(guī)格插件
      類型DIP
      間距0.35
      總針腳數(shù)24 1
      圓孔/方孔圓孔
      觸頭鍍層金
      工作溫度范圍-45~155℃
      包裝盒裝
      認(rèn)證機(jī)構(gòu)CE
      最小包裝量1
      數(shù)量1
      封裝QFN
      批號(hào)以出貨為準(zhǔn)
      品牌ANDK

      QFN36-0.35-3*3-0091TGH芯片測(cè)試座
      1.引腳：36 signal Pin 1 GND；
      2.間距：0.35mm
      3.尺寸：4*4mm
      4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
      5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
      6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV（initial）
      7.Temperature:-45~155℃
      8.Current Rating：1A Max.






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